![西安熔断器生产厂家-RS504C](/data/upload/202006/20200608112927_686.jpg)
开关设备的电流开断过程是弧隙由小阻抗到高阻抗的变化过程。当熔断器中的电流从开断瞬时起,西安熔断器生产厂家其弧隙将会迅速从良导体转变为绝缘体,并且能承受电力系统加在弧隙上的恢复电压,以阻止电流通过弧隙。
熔断器分断故障电流后,弧隙还是一个具有一定电阻的导体,在恢复电压的作用下弧隙中就有电流通过,将此电流定义为弧后电流{ ( post-arccurrent)。
弧后电流研究,西安熔断器生产厂家对于熔断器的弧后电流研究,多为20世纪之前的研究,针对弧后电流的大小以及残躯电阻等方向。
弧后电流国外研究现状,1978年,M.R. Barrau在 PROC.IEE发表的文章Factors influencing the formation and structureof fuse fulgurites中首次提到 post-arc current的概念,并指出银和铝熔体的弧后电流均随着熔体几何尺寸的增大而增大,且相同几何形状的银熔体的弧后电流往往小于铝焰体弧后电流;
1992,波兰罗兹工业大学 Jakubluk K., Lipski T在其论文 Dynamics of Fulqurite Formation
during Arcing in HRC Fuses中详细阐述了熔断器残躯的形成过程,并给出了熔断器弧后恢复过程集中在两条平行路径上;
一个是分散在石英砂中井与焰体未端电流连接的金属层之间的间隙
第二个是沿着熔融的二氧化硅壁。
同年,在第七届“ Switching Arc Phenomena国际会议上,罗兹工业大学的 Cwidak K, Lipski T.发表了 Post-arcresistance in h.b.c. fuses,将熔断器的弧后恢复过程用残躯电阻(熔断器两端恢复电压与弧后电流的比值)来反应Ehrhardt A, Nutch G., Rother W发表了 Das Verhalten vonelektrischen Sicherungen nach Stromnull(西安熔断器生产厂家弧后电流特性),指出熔断器弧后残躯电阳与温度有很大关系,Cwidak K, Lipski T。在1995发表的 New results on thepost-arc fulgurite resistance of h.b.c. fuses也进一步印证了这个观点。